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11 物理的危険
SEMI D75-0524 (technical revision)
このスタンダードでは，ウェーハまたはバルクシリコン試料の評価用としてそれぞれ2種類ずつ，合計4種類の測定方法論を記述する。いずれの測定法も，無線周波数と照射光源で励起した誘導コイル（渦電流）センサを用いて実行する。2種類の方法ではQSSPC法を用いる。この技法では光生成を測定するため，光度検出器が必要である。また，用いるべき校正方法についても本文書の範囲内で取り上げる。
本スタンダードは，バックライトユニットに適用する。本スタンダードには，バックライトユニットならびに液晶パネル業界で使用される，バックライト用部材・検査・測定に関する用語が含まれる。その他の事項については，他の
IC Market Overview StdTpc-3DS-IC 11 物理的危険Course Description This course discusses the nature of the global, economic market of integrated circuits. As you complete this course, you'll learn about market size and segmentation, characteristics that are unique to this market, and overall outlook of the market. By learning about the market landscape, you can deepen your understanding of the semiconductor industry. This course includes instructor led videos, visual animations, and knowledge